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Cover von Applications
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Jahr: 1997
Handbook of microscopy
Cover von Methods 2
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Jahr: 1997
Handbook of microscopy
Cover von Methods 1
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Jahr: 1997
Handbook of microscopy
Cover von 11.; Nondestructive characterization of materials
Verfasser: BAM, Federal Institute for Materials Research and Testing <Berlin> Suche nach diesem Verfasser
Jahr: 2003
Verlag: Berlin, Springer
Bandangabe: 11.
Cover von 3.; Theory of STM and related scanning probe methods
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Jahr: 1996
Scanning tunneling microscopy
Bandangabe: 3.
Reihe: Springer series in surface sciences; 29
Cover von 2.; Further applications and related scanning techniques
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Jahr: 1995
Scanning tunneling microscopy
Bandangabe: 2.
Reihe: Springer series in surface sciences; 28
Cover von 1.; General principles and applications to clean and adsorbate-covered surfaces
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Jahr: 1994
Scanning tunneling microscopy
Bandangabe: 1.
Reihe: Springer series in surface sciences; 20
Cover von 1.; Characterization of semiconductor materials
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Jahr: 1989
Bandangabe: 1.
Cover von Nanoscale calibration standards and methods
dimensional and related measurements in the micro- and nanometer range
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Jahr: 2005
Verlag: Weinheim, Wiley-VCH
Cover von Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse
mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop ; ein Handbuch für die Praxis
Verfasser: Eggert, Frank Suche nach diesem Verfasser
Jahr: 2005
Verlag: Norderstedt, Books on Demand GmbH
OPEN V 11.1.0.0