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Elektronenmikroskopie

Grundlagen, Methoden, Anwendungen
Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Flegler, Stanley L.; Heckman, John W.
Verfasserangabe: Stanley L. Flegler ; John W. Heckman
Medienkennzeichen: SA-Uc
Jahr: 1995
Verlag: Heidelberg [u.a.], Spektrum, Akad. Verl.

Exemplare

ZweigstelleSignaturMediengruppeBarcodeStandort 2
Zweigstelle: Frankenthal, ÖB Signatur: Ufl Fleg Mediengruppe: Barcode: 79626295 Standort 2: 1
Zweigstelle: K'lautern, ÖB Signatur: Uck 45/Fleg Mediengruppe: Barcode: 01084719 Standort 2: Sachbücher
Zweigstelle: Zweibrücken, Hochsch Signatur: N280/12b Mediengruppe: Barcode: ZW004682 Standort 2:
Zweigstelle: Zweibrücken, Hochsch Signatur: N280/12c Mediengruppe: Barcode: ZW004681 Standort 2:
Zweigstelle: Zweibrücken, Hochsch Signatur: N280/12d Mediengruppe: Barcode: ZW004680 Standort 2:
Zweigstelle: Zweibrücken, Hochsch Signatur: N280/12a Mediengruppe: Barcode: ZW004873 Standort 2:
Zweigstelle: Zweibrücken, Hochsch Signatur: N280/12 Mediengruppe: Barcode: ZW004683 Standort 2:

Inhalt

Stellt einzelne Typen (Transmissionselektronenmikroskop, Rasterelektronenmikroskop) und die Probenpräparation (Mikrotomie, Kontrastverfahren u.a.) vor; eine Einführung für Studenten und Laborpraktiker.

Details

Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Flegler, Stanley L.; Heckman, John W.
Verfasserangabe: Stanley L. Flegler ; John W. Heckman
Medienkennzeichen: SA-Uc
Jahr: 1995
Verlag: Heidelberg [u.a.], Spektrum, Akad. Verl.
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Systematik: Suche nach dieser Systematik Uck 45
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ISBN: 3-86025-341-7
Beschreibung: VIII, 279 S. : zahlr. Ill. und graph. Darst.
Schlagwörter: Elektronenmikroskopie
Beteiligte Personen: Suche nach dieser Beteiligten Person Klomparens, Karen L.
Originaltitel: Scanning and transmission electron microscopy <dt.>
Fußnote: Aus dem Engl. übers.