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Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie - SIMS -

mit Tabellen
Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Düsterhöft, Heinz; Riedel, Miklos; Düsterhöft, Bettina-Kirsten
Verfasserangabe: von Heinz Düsterhöft, Miklos Riedel und Bettina-Kirsten Düsterhöft
Jahr: 1999
Verlag: Stuttgart, Teubner
Reihe: Teubner-Studienbücher , Physik

Exemplare

ZweigstelleSignaturMediengruppeBarcodeStandort 2
Zweigstelle: Zweibrücken, Hochsch Signatur: N250/41 Mediengruppe: Barcode: ZW038873 Standort 2:
Zweigstelle: Zweibrücken, Hochsch Signatur: N250/41a Mediengruppe: Barcode: ZW038874 Standort 2:

Details

Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Düsterhöft, Heinz; Riedel, Miklos; Düsterhöft, Bettina-Kirsten
Verfasserangabe: von Heinz Düsterhöft, Miklos Riedel und Bettina-Kirsten Düsterhöft
Jahr: 1999
Verlag: Stuttgart, Teubner
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Systematik: Suche nach dieser Systematik N250
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ISBN: 3-519-03239-2
Beschreibung: 184 S.: Ill., graph. Darst.
Reihe: Teubner-Studienbücher , Physik
Schlagwörter: Lehrbuch; Sekudärionen-Massenspektrometrie
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Fußnote: Literaturverz. S. 157 - 176