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Tiefenabhängige Messung von Diffusionslängen mit dem Photostrom-Messverfahren Elymat

Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Falter, Thomas
Verfasserangabe: Thomas Falter
Jahr: 1995
Verlag: Aachen, Shaker
Reihe: Erlanger Berichte Mikroelektronik

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ZweigstelleSignaturMediengruppeBarcodeStandort 2
Zweigstelle: Zweibrücken, Hochsch Signatur: N250/21 Mediengruppe: Barcode: ZW007760 Standort 2:

Details

Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Falter, Thomas
Verfasserangabe: Thomas Falter
Jahr: 1995
Verlag: Aachen, Shaker
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Systematik: Suche nach dieser Systematik N250
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ISBN: 3-8265-0658-8
Beschreibung: Als Ms. gedr., III, 99 S.: graph. Darst.
Reihe: Erlanger Berichte Mikroelektronik
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Fußnote: Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 1995