Cover von Residual stress measurement by X-ray diffraction wird in neuem Tab geöffnet

Residual stress measurement by X-ray diffraction

HS-784
Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Society of Automotive Engineers
Verfasserangabe: SAE Permissions, Warrendale, PA
Jahr: 2003
Verlag: Warrendale, Pa, SAE International

Exemplare

ZweigstelleSignaturMediengruppeBarcodeStandort 2
Zweigstelle: K'lautern Hochschule Signatur: 315 Resi Mediengruppe: Barcode: KL040075 Standort 2:

Details

Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Society of Automotive Engineers
Verfasserangabe: SAE Permissions, Warrendale, PA
Jahr: 2003
Verlag: Warrendale, Pa, SAE International
opens in new tab
Systematik: Suche nach dieser Systematik 315
Suche nach diesem Interessenskreis
ISBN: 978-0-7680-1069-5
2. ISBN: 0-7680-1069-1
Beschreibung: 84 S. : Ill., graph. Darst.
Schlagwörter: Eigenspannung; Röntgenbeugung; Röntgendiffraktometrie; Spannungsanalyse
Suche nach dieser Beteiligten Person
Sprache: Englisch