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Instrinsic point defects, impurities, and their diffusion in silicon

Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Pichler, Peter
Verfasserangabe: Peter Pichler
Jahr: 2004
Verlag: Berlin, Springer
Reihe: Computational microelectronics

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ZweigstelleSignaturMediengruppeBarcodeStandort 2
Zweigstelle: Zweibrücken, Hochsch Signatur: N525/27 Mediengruppe: Barcode: ZW044214 Standort 2:

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Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Pichler, Peter
Verfasserangabe: Peter Pichler
Jahr: 2004
Verlag: Berlin, Springer
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Systematik: Suche nach dieser Systematik N525
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ISBN: 3-211-20687-6
Beschreibung: XXI, 554 S. : Ill., graph. Darst.
Reihe: Computational microelectronics
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Sprache: Englisch
Fußnote: Literaturang.